您的位置: 百測網(wǎng)>現(xiàn)場預(yù)約>微觀形貌分析>透射電子顯微鏡>場發(fā)射透射 >HRTEM-廣州云現(xiàn)場
預(yù)約單價:¥1000 元
儀器安裝地址:廣州-僅支持云現(xiàn)場
檢測能力:形貌分析、結(jié)構(gòu)分析、成分分析
儀器狀態(tài):正常
項目好評率:100.00%
FEI Talos F200X透射電子顯微鏡是一個真正多功能、多用戶環(huán)境的200kV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件,能采集TEM明場、暗場像和高分辨像,能進行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射,能進行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析,STEM結(jié)合EDX點、線、面掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。該儀器還配備了相關(guān)的制樣設(shè)備,包括Gantan691離子減薄儀、磁力雙噴電解減薄器和凹坑儀等,可以進行金屬、生物以及高分子材料等樣品的透射電子顯微鏡的制樣工作。該儀器可廣泛應(yīng)用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學、醫(yī)學、化學、物理學、地質(zhì)學、金屬、半導體材料等領(lǐng)域的科研,是研究各種材料的超顯微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的大型精密儀器。
(一)納米材料檢測案例
多層石墨烯高分辨像 鈣鈦礦量子點高分辨像
(二)塊體材料檢測案例
單晶硅晶格條紋像 塊體樣品晶格條紋像
(三)選區(qū)電子衍射檢測案例
非晶材料選區(qū)電子衍射圖 單晶材料選區(qū)電子衍射圖
(四)能譜點測檢測案例
不銹鋼能譜點測檢測案例(一) 不銹鋼能譜點測檢測案例(二)
(五)能譜線掃檢測案例
Pt包覆Au核殼結(jié)構(gòu)線掃形貌像 Pt包覆Au核殼結(jié)構(gòu)線掃圖譜
(六)能譜面分布檢測案例
Pt包覆Au核殼結(jié)構(gòu)面分布綜合圖譜 Pt包覆Au核殼結(jié)構(gòu)Au單元素圖譜
周一到周日 8:30 - 21:30
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