透射電鏡即透射電子顯微鏡（英文簡稱TEM）是使用最為廣泛的一類電鏡。TEM可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。

　　工作原理：利用電子射線（或稱電子束也稱電子波）穿透樣品，而后經(jīng)多級電子放大后成像于熒光屏。

　　主要優(yōu)點(diǎn)：分辨率高，可用來觀察組織和細(xì)胞內(nèi)部的超微結(jié)構(gòu)以及微生物和生物大分子的全貌。

　　TEM測試主要測什么？

　　中科百測檢測TEM可檢測的項(xiàng)目有：

　　可測試TEM、磁性TEM+HRTEM、SAED、EDS點(diǎn)掃/微區(qū)、EELS點(diǎn)或線或面掃、磁性STEM mapping、3D-TEM、STEM(HAADF)

　　在中科百測做TEM測試對樣品有以下幾點(diǎn)要求:

　　(1)粉末、液體樣品均可，固體樣品太大了的需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣

　?、茦悠繁仨毢鼙。闺娮邮軌虼┩?，一般厚度為100~200nm左右;

　?、菢悠沸柚糜谥睆綖?~3mm的銅制載網(wǎng)上，網(wǎng)上附有支持膜;

　　(4)樣品應(yīng)有足夠的強(qiáng)度和穩(wěn)定性，在電子線照射下不至于損壞或發(fā)生變化;

　　(5)樣品及其周圍應(yīng)非常清潔，以免污染。