XRF測(cè)試即X射線熒光光譜法（XRF）原理是使用X射線照射樣品產(chǎn)生的特征熒光，進(jìn)行定性和定量分析。那么，XRF測(cè)試的元素有哪些呢？下面中科百測(cè)XRF測(cè)試機(jī)構(gòu)為您總結(jié)出下面這些。

　　利用X射線熒光原理，理論上可以測(cè)量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中，有效的元素測(cè)量范圍為9號(hào)元素 （F）到92號(hào)元素（U）。

　　X射線熒光光譜分析法的特點(diǎn)

　　(一）優(yōu)點(diǎn)

　　(1）分析速度快。

　　(2）X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)及物理狀態(tài)無(wú)關(guān)。

　　(3）非破壞分析。

　　(4）X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)化學(xué)性質(zhì)上屬于同一族的元素也能進(jìn)行分析。

　　(5）分析精密度高。

　　(6) X射線光譜比發(fā)射光譜簡(jiǎn)單,故易于解析。

　　(7）制樣簡(jiǎn)單。

　　(8）X射線熒光分析系表面分析，測(cè)定部位是0.1mm深以上的表面層。

　　(二）缺點(diǎn)

　　(1）難于作絕對(duì)分析,故定量分析需要標(biāo)樣。

　　(2）原子序數(shù)低的元素，其檢出限及測(cè)定誤差都比原子序數(shù)高的元素差。

　　X射線熒光光譜法XRF樣品要求：

　　1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干；

　　2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；

　　3.檢測(cè)單元表面盡量平整，且尺寸為4-4.5cm。

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