X射線熒光光譜法具有樣品前處理簡單、分析周期短、重現(xiàn)性好、可同時測定多元素、測試成本低等優(yōu)點。X射線熒光光譜法XRF可以分析測試哪些元素? 今天中科百測就來給大家詳細的介紹一下：XRF的原理以及XRF可以測試元素范圍。

　　一、X射線熒光光譜法XRF

　　XRF測試本身是一種方法，即X射線熒光光譜法（XRF）原理是使用X射線照射樣品產生的特征熒光，進行定性和定量分析。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素 （F）到92號元素（U）。

　　二、X射線熒光光譜分析法的特點

　　(一）優(yōu)點

　　(1）分析速度快。

　　(2）X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)及物理狀態(tài)無關。

　　(3）非破壞分析。

　　(4）X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對化學性質上屬于同一族的元素也能進行分析。

　　(5）分析精密度高。

　　(6) X射線光譜比發(fā)射光譜簡單,故易于解析。

　　(7）制樣簡單。

　　(8）X射線熒光分析系表面分析，測定部位是0.1mm深以上的表面層。

　　(二）缺點

　　(1）難于作絕對分析,故定量分析需要標樣。

　　(2）原子序數(shù)低的元素，其檢出限及測定誤差都比原子序數(shù)高的元素差。

　　以上就是中科百測檢測平臺關于xrf測試儀的特點，如有測試需求，可以和中科百測聯(lián)系，我們會給與您準確的數(shù)據(jù)和優(yōu)秀的服務體驗，希望可以在大家的科研路上有所幫助。