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離子減薄制樣

離子減薄制樣

價 格:500

檢測能力:透射電鏡塊體樣品制備

檢測周期:5 工作日

項目好評率:100.00%

服務次數:1004 次

   

離子減薄儀

Leica EM RES102   美國萊卡公司生產
離子減薄案例1.png        

技術參數

Technical Parameters           
離子束能量: 0.8-10 KeV可調                                                                                             離子束流:4.5mA                 
減薄角度:0°-90°                                                                                                                 最大樣品尺寸:直徑25mm,高度12mm             

應用范圍

Applied Range

       Leica EM RES102 多功能離子減薄儀是萊卡公司生產的一款集TEM、SEM和LM樣品制備功能于一體的全自動桌面式設備。通過離子槍激發(fā)獲得離子束,以一定入射角度對樣品進行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實現對樣品的離子束加工。該設備具有高能量離子研磨功能,也能用于低能量及溫和的離子束研磨,拋光區(qū)域可達25 mm,研磨過程參數全電腦控制。該設備廣泛用于無機薄片樣品的大面積減薄以有利于TEM觀察,也可對樣品表面污染層或涂層進行清潔,或用于樣品表面的離子束刻蝕,便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內部結構信息。            

利用它可以進行

應用范圍                
可用于制備金屬、陶瓷、薄膜、半導體材料等各種塊體材料的透射電鏡試樣(包括截面樣品)。             

檢測案例

Test Case

(一)離子減薄案例  

努力添加中........                  

送樣要求

Sample Requirement
塊體樣品:樣品直徑3mm,厚度小于100um,若大于該尺寸將收取相應的機械拋光或切割費用。
               
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服務方信息

專屬客服

項目評價

檢測質量:
5分
服務態(tài)度:
5分
檢測時效:
5分
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