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SIMS測試

價格：￥1500

檢測能力：檢測周期正常，數(shù)據(jù)質(zhì)量正常

檢測周期：5 工作日

項(xiàng)目好評率：100.00%

服務(wù)次數(shù)：715 次

項(xiàng)目詳情檢測案例送樣要求用戶評價(12) 項(xiàng)目問答(0)

項(xiàng)目介紹

飛行時間二次離子質(zhì)譜 IONTOF 5（德國）

技術(shù)參數(shù)

20kV C60 脈沖濺射離子槍
銫濺射離子槍
氬氣/氧氣濺射離子槍
GCIB團(tuán)簇離子槍
樣品傳送管

應(yīng)用范圍

飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，一束高能初級離子轟擊樣品表面激發(fā)出原子和分子碎片，一小部分激發(fā)出的粒子以離子的狀態(tài)離開表面，被質(zhì)量分析器探測出來，具有極高分辨率的測量技術(shù)。對于不同的材料，檢測的含量不同，對于無機(jī)材料, 原子離子百分含量> 10%，對于有機(jī)材料，原子和分子離子碎片百分含量可以從0.001% 到 1%，僅從表面2個分子層激發(fā)出的粒子可以以離子態(tài)離開表面。

實(shí)際應(yīng)用