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價(jià) 格：￥150
檢測(cè)能力：TEM數(shù)據(jù)分析
檢測(cè)周期：5 工作日
項(xiàng)目好評(píng)率：100.00%
服務(wù)次數(shù)：2755 次
TEM數(shù)據(jù)分析是通過(guò)對(duì)原始圖譜進(jìn)行一系列的測(cè)量、分析、標(biāo)定從而得到樣品結(jié)構(gòu)信息的一種數(shù)據(jù)處理手段。通過(guò)TEM數(shù)據(jù)解析我們能得到樣品的平均粒徑、晶粒尺寸、晶體結(jié)構(gòu)、位錯(cuò)類(lèi)型、界面取向關(guān)系、原子排列順序等信息。目前常用的軟件有DM、CrystalMaker、NanoMeasure等
周一到周日 8:30 - 21:30
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