產(chǎn)品簡介

X射線衍射（XRD）是一種彈性散射技術(shù)，它允許X射線光子在與物質(zhì)相互作用時不損失能量。同步輻射XRD利用同步輻射設(shè)施產(chǎn)生的X射線，這些設(shè)施中的電子在接近光速的速度下被加速至多GeV級別的能量，并在超高真空的儲存環(huán)中被磁場迫使改變方向，從而產(chǎn)生稱為同步輻射的電磁輻射。SR-XRD比實驗室XRD具有更大的穿透深度，并顯著提高了時間分辨和高分辨率原位實驗的可能性。

設(shè)備信息

       目前可測試光源：上海光源、合肥光源、北京光源、臺灣光源、日本光源、歐洲光源、北美光源等。

案例展示

應(yīng)用領(lǐng)域

1.晶體結(jié)構(gòu)分析：同步輻射XRD可以確定晶體的晶格參數(shù)、晶體對稱性、原子在晶格中的位置等基本信息，從而揭示材料的晶體結(jié)構(gòu)。

2.相分析：通過分析衍射峰的位置和強度，可以識別材料中存在的不同相（如固溶體、化合物、雜質(zhì)相等），并估計各相的相對含量。

3.晶粒尺寸和微觀應(yīng)力：通過衍射峰的寬度分析，可以得到材料晶粒的平均尺寸和微觀應(yīng)力水平。晶粒尺寸越小，衍射峰越寬；應(yīng)力越大，衍射峰也會發(fā)生相應(yīng)的位移。

4.紋理分析：同步輻射XRD可以用來分析材料的晶體取向分布，即晶體紋理。這對于理解材料的加工過程和性能具有重要意義。

5.薄膜和多層結(jié)構(gòu)分析：對于薄膜和多層結(jié)構(gòu)材料，同步輻射XRD可以提供薄膜的厚度、界面粗糙度、應(yīng)力狀態(tài)等信息。