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價 格:¥1500
檢測能力:不穩(wěn)定納米結構研究(易被氧化,不耐電子束照射等),三維結構(TEM\ STEM)研究 \ 三維冷凍透射研究,明暗場像以及選區(qū)電子衍射
檢測周期:12 工作日
項目好評率:100.00%
服務次數(shù):155 次
型號:FEI Talos F200C (場發(fā)射)
主要功能:
1. 冷凍高分辨
2. 生物大分子復合體冷凍高分辨,溶液組裝復合體冷凍高分辨研究
3. 不穩(wěn)定納米結構研究(易被氧化,不耐電子束照射等)
4. 三維結構(TEM\ STEM)研究 \ 三維冷凍透射研究
5. 明暗場像以及選區(qū)電子衍射
6. STEM測試
周一到周日 8:30 - 21:30
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服務熱線:4009955399
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