一、產(chǎn)品簡介

同步輻射X-射線吸收譜精細結(jié)構(gòu)（XAFS）是一種強大的分析技術(shù)，用于研究材料的局部結(jié)構(gòu)和化學狀態(tài)。XAFS通過測量X射線在材料中的吸收邊緣附近的精細結(jié)構(gòu)，提供有關(guān)原子周圍環(huán)境的信息。
XAFS可以分為三個部分，邊前區(qū)（Pre-edge）、近邊區(qū)（XANES）和擴展邊（EXAFS）。XANES可以得到吸收原子的電子結(jié)構(gòu)，包括價態(tài)，對稱性，軌道占據(jù)等信息；EXAFS可以得到吸收原子周圍配位信息，包括配位原子種類，鍵長，配位數(shù)，無序度等信息，是研究原子配位環(huán)境的重要分析手段。
二、設(shè)備信息
目前可測試光源：上海光源、合肥光源、北京光源、臺灣光源、日本光源、歐洲光源、北美光源等。
三、送樣要求
1、粉末樣品最好過200目，無明顯顆粒感，至少50mg以上，準備70-100mg比較合適； 
2、塊狀/薄膜樣品要求長寬≥8mm，10*10mm左右比較合適，樣品厚度和材料相關(guān)，薄膜正常沒問題，塊體的話看看什么樣品情況了解一下，具體請咨詢測試老師；
3、液體5ml以上，濃度盡量在0.25mol/ml以上，濃度越高越好。
4、薄膜/塊體/液體大概率要用熒光模式測試；
5、軟X射線一般用于測非金屬元素的吸收邊（XANES），因此無標樣數(shù)據(jù)，需要和資料文獻比對分析化學態(tài)變化及歸屬；另外，軟線是在高真空下測試，樣品在超高真空及在X射線下應(yīng)穩(wěn)定，不分解、不釋放氣體，含水，含油等粘性以及液體樣品無法測試，且對含量要求較高，為保證測試效果，待測元素質(zhì)量百分比最好大于5%；
6、臺式同步輻射：待測元素含量一般要求＞1%，最好在5%以上，越高越好，需評估后測試。
四、案例展示

五、應(yīng)用領(lǐng)域

1. 材料科學
催化劑研究：
分析催化劑的活性中心結(jié)構(gòu)（如金屬納米顆粒、單原子催化劑）。
研究催化反應(yīng)過程中活性位點的動態(tài)變化。
電池材料：
研究鋰離子電池、鈉離子電池等電極材料的局域結(jié)構(gòu)和電子態(tài)。
分析充放電過程中材料的相變和結(jié)構(gòu)演化。
納米材料：
表征納米顆粒的尺寸、形狀和表面化學狀態(tài)。
研究納米材料的合成機制和生長過程。

2. 化學
配位化學：
研究配合物的局域結(jié)構(gòu)和鍵合特性。
分析配體對金屬中心電子態(tài)的影響。
反應(yīng)機理：
揭示化學反應(yīng)中中間體的結(jié)構(gòu)和電子態(tài)變化。
研究光催化、電催化等反應(yīng)的動態(tài)過程。

3. 環(huán)境科學
污染物分析：
研究重金屬（如砷、鉛、汞）在環(huán)境中的化學形態(tài)和遷移轉(zhuǎn)化。
分析土壤、水體中污染物的吸附和解吸行為。
環(huán)境修復：
研究納米材料在環(huán)境修復中的應(yīng)用機制（如吸附、催化降解）。

4. 地球科學
礦物學：
研究礦物的局域結(jié)構(gòu)和化學鍵特性。
分析礦物中微量元素的賦存狀態(tài)。
地球化學：
研究地球內(nèi)部物質(zhì)的相變和化學反應(yīng)。
分析隕石、月巖等 extraterrestrial 材料的結(jié)構(gòu)和組成。

5. 生物學
金屬蛋白質(zhì)：
研究金屬蛋白質(zhì)中金屬中心的局域結(jié)構(gòu)和電子態(tài)。
分析金屬離子在生物過程中的作用機制。
藥物設(shè)計：
研究金屬藥物與生物分子的相互作用。
分析藥物在體內(nèi)的代謝過程。

6. 能源材料
太陽能電池：
研究鈣鈦礦太陽能電池中金屬離子的局域結(jié)構(gòu)和電子態(tài)。
分析光電轉(zhuǎn)換過程中的結(jié)構(gòu)變化。
燃料電池：
研究燃料電池催化劑的結(jié)構(gòu)和性能關(guān)系。
分析催化劑在反應(yīng)中的動態(tài)變化。

7. 考古與文化遺產(chǎn)
文物分析：
研究古代金屬器物的制作工藝和腐蝕機制。
分析顏料、陶瓷等文化遺產(chǎn)材料的結(jié)構(gòu)和組成。
六、常見問題
1、軟線、中能、硬線常規(guī)、高能是怎么區(qū)分的？如何查看待測元素的吸收邊能量大??？
1）根據(jù)能量區(qū)分，大概范圍如下所示：
軟X射線：能量范圍在50eV~2000eV，可測元素包括B、C、N、O、F、Na、Mg、Al、Si的K吸收邊，Cl、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Se、Br、Rb、Sr、Y的L3吸收邊（只測近邊）
中能X射線：能量范圍在1700eV~5800eV，可測元素包括Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc、Ti、V的K吸收邊，Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Tc、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、I、Cs、Ba、La、Ce的L3吸收邊（只測近邊）
硬X射線（常規(guī)）：能量范圍在4000eV~23000eV，可測元素包括Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Se、Br、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Tc、Ru的K吸收邊，Sb、Te、I、Ce、Ba、La、Ce、Pr、Nb、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Yb、Lu、Hf、Ta、W、Re、Os、Tr、Pb、Bi、Po、At、Fr、Ra、Ac、Th、Pa、U、Np、Pu、Am、Cm、Cm、Bk、Cf、Es、Fm、Md、No、Lr的L3吸收邊
硬X射線（高能）：能量范圍在20000eV~40000eV，可測元素包括Tc、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、I、Cs、Ba、La的K吸收邊
2）使用Demeter軟件中的Hephaestus軟件，選擇待測元素，即可查看對應(yīng)吸收邊的能量大??；
其中，低于2kev為軟X射線，4k-20keV為硬X射線，20kev以上為高能。
2、拿到什么樣的測試結(jié)果？
通常數(shù)據(jù)以txt格式發(fā)送，txt格式可直接用Athena軟件打開，打開可以查看其E、k、R、q空間譜圖，如需進一步擬合，則需要單獨預約“同步輻射數(shù)據(jù)分析”。
3、同步輻射軟線能測擴展邊嗎？
同步輻射軟線主要用于探測表面性質(zhì)，類似于XPS。對于原子序數(shù)較小的非金屬元素，如C、N、O等，由于其激發(fā)后能量較低，軟線可以獲取的數(shù)據(jù)點較少，因此無法進行EXAFS（擴展邊吸收結(jié)構(gòu)）的傅里葉轉(zhuǎn)換和計算。所以，軟線通常用于測量近邊數(shù)據(jù)，而不是擴展邊數(shù)據(jù)。
4、通過硬線測金屬的K邊和軟線測L邊得到的信息有什么區(qū)別？
硬線K邊是可以得到擴展邊，有擴展邊才能分析配位這些信息，軟線的話只能得到近邊數(shù)據(jù)，近邊只能判斷價態(tài)，沒法分析出來配位信息，另外，硬線還是軟線看的是能量，不是看的測哪個邊，因為有些元素測L邊也是硬線的，比如Pt就是測的L邊。
5、測試結(jié)果曲線毛刺、跳邊不明顯、信噪比差可能是什么原因？
數(shù)據(jù)質(zhì)量一般，是由于元素含量較低，或其他元素組分干擾造成的，又或者是樣品本身內(nèi)部結(jié)構(gòu)復雜引起的。