JEM ARM 200F球差電鏡是一款原子級分析型透射電鏡，擁有世界領(lǐng)先的STEM-HAADF像分辨率（78pm），無論是200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統(tǒng)，可以自動進行快速準確的像差校正。新STEM成像技術(shù)（e-ABF法）可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。 ARM200F在保證亞納米分辨率0.078nm的同時，能量分辨率提高到了0.3eV，極大增強了原子級觀察和原子級分析能力。